NIKON METROLOGY XT V 160

Para producción, control de calidad, análisis de fallas, detección de defectos, investigación de materiales y mucho más.

La gama de sistemas XT V comprende sistemas de inspección TC de rayos X de clase mundial de diseño ergonómico avanzado, que satisfacen la necesidad actual de inspección de alto rendimiento de componentes cada vez más complejos con tolerancias cada vez más estrictas.

Los sistemas son de uso intuitivo y aprovechan el software líder en la industria para maximizar la productividad de todos los operadores, con una necesidad mínima de capacitación. Los modos de inspección automatizados permiten la inspección de muestras a tasas altas de rendimiento, con informes intuitivos de éxito/fallo.

Con reconocimiento de características submicrónicas, los sistemas de inspección XT V son aplicables a una amplia gama de aplicaciones e industrias, incluido el ensamblaje de PCB, inspección BGA, diseño de chips, fabricación de componentes médicos y automotrices, aeroespacial, productos de consumo y mucho más.

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