Las máquinas de rayos X Nikon Metrology disponen de la más alta e innovadora tecnología de inspección.

Las fuentes de rayos X Nikon Metrology son el núcleo de su tecnología y son diseñadas y fabricadas internamente. Esto permite que Nikon Metrology se adapte rápidamente al mercado y desarrolle soluciones completas e innovadoras según la demanda de aplicaciones.

XT V 160: inspección de rayos X de máxima calidad

Diseñado específicamente para líneas de producción y laboratorios de análisis de errores, el XT V 160 puede configurarse con distintos componentes de primera calidad para optimizar el rendimiento según sus necesidades. Además de la inspección manual en tiempo real, el proceso de inspección puede automatizarse completamente para maximizar la productividad.

 

  • Fuente NanoTech de 160 kV/20 W de microfoco con reconocimiento de características submicrónica

  • Cámara de 12 bits y 1,45 Mpixel con intensificador de imagen de 4″/6″ de campo doble

  • Detector de pantalla plana optativo

  • Manipulador de 5 ejes (X,Y,Z, rotación, inclinación)

  • Vistas aéreas en 360°, manteniendo la región de interés fija al centro del campo de visión

  • Captura en tiempo real o inspección automatizada

  • Preparado para aplicaciones de TC (opción)

XT V 130C: inspección de rayos X rentable

El XT V 130C es un sistema de inspección muy flexible y económico para sistemas electrónicos y semiconductores. El sistema presenta una fuente de 130 kV/10 W fabricada por Nikon Metrology, un diseño de tubo abierto mundialmente reconocido con generador integrado y una cadena de creación de imágenes de alta resolución.

  • Fuente 130 kV/10 W de microfoco con reconocimiento de características de 2 μm
  • Cámara de 12 bits y 1,45 Mpixel con intensificador de imagen de 6”

  • Manipulador de 4 ejes (X, Y, Z, inclinación)

  • Se enfoca principalmente en captura de imágenes en tiempo real