Para producción, control de calidad, análisis de fallas, detección de defectos, investigación de materiales y mucho más.
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NIKON METROLOGY XT V 160
General
Información técnica
General
Diseñado específicamente para líneas de producción y laboratorios de análisis de errores, el XT V 160 puede configurarse con distintos componentes de primera calidad para optimizar el rendimiento según sus necesidades. Además de la inspección manual en tiempo real, el proceso de inspección puede automatizarse completamente para maximizar la productividad.
Información técnica
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Fuente NanoTech de 160 kV/20 W de microfoco con reconocimiento de características submicrónica
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Cámara de 12 bits y 1,45 Mpixel con intensificador de imagen de 4″/6″ de campo doble
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Detector de pantalla plana optativo
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Manipulador de 5 ejes (X,Y,Z, rotación, inclinación)
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Vistas aéreas en 360°, manteniendo la región de interés fija al centro del campo de visión
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Captura en tiempo real o inspección automatizada
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Preparado para aplicaciones de TC (opción)
Con reconocimiento de características submicrónicas, los sistemas de inspección XT V son aplicables a una amplia gama de aplicaciones e industrias, incluido el ensamblaje de PCB, inspección BGA, diseño de chips, fabricación de componentes médicos y automotrices, aeroespacial, productos de consumo y mucho más.